| Registro completo |
| Provedor de dados: |
IRD
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| País: |
France
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| Título: |
"Back-and-forth" as a viable alternative to the brain drain perspective, with Chinese examples
International scientific migrations today : new perspectives
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| Autores: |
Pedersen, P.
Lee, K.S.
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| Data: |
1996
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| Ano: |
1996
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| Palavras-chave: |
EXODE DES COMPETENCES
MIGRATION INTERNATIONALE
MIGRATION DE RETOUR
ETUDIANT
POLITIQUE DE LA RECHERCHE
RECHERCHE SCIENTIFIQUE
TECHNOLOGIE
PRISE DE DECISION
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| Resumo: |
Dans la présente contribution, nous exposons les modèles de prise de décision de retourner au pays à l'issue d'études à l'étranger. L'analyse s'appuie sur les données qualitatives et quantitatives obtenues auprès d'étudiants de Taïwan qui ont mené des études aux Etats-Unis en sciences et en ingénierie. Nous passons en revue la littérature existante sur les processus de retour et présentons des examples de cas, enfin nous émettons quelques suggestions pouvant servir de base à de futures études sur cette problématique. (Résumé d'auteur)
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| Tipo: |
Text
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| Idioma: |
Inglês
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| Identificador: |
http://www.documentation.ird.fr/hor/fdi:010022327-26
oai:ird.fr:fdi:010022327-26
Pedersen P., Lee K.S. "Back-and-forth" as a viable alternative to the brain drain perspective, with Chinese examples. In : Charum J. (ed.), Meyer Jean-Baptiste (ed.). International scientific migrations today : new perspectives. Paris : IRD, 1996, 7 p. (Colloques et Séminaires). International Scientific Migrations Today : New Perspectives : Symposium, Bogota (COL), 1996/06/24-26
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| Editor: |
IRD
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| Formato: |
text/pdf
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