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Barbosa,Osvaldo A.; Bertani,Luis A.; Fernandez,Fidelia R.H.; Mendoza,Raúl P.. |
Dentro de un levantamiento edafológico semidetallado, se realizó un análisis fisiográfico del área entre los municipios de La Unión, La Victoria, Toro y Obando (Departamento Valle del Cauca, Colombia). El objetivo del trabajo fue la evaluación de la utilización de la metodología del análisis fisiográfico y su clasificación por el sistema CIAF. En el sector se encuentran dos provincias fisiográficas: la Depresión Cauca-Patía y la Cordillera Occidental. En la primera dominan los procesos agradacionales, mientras en la segunda predominan los degradacionales. En la zona plana, los elementos que permitieron el reconocimiento de las unidades de paisaje son: canales de drenaje, uso de la tierra, condición de drenaje y procesos pedogenéticos, que en algunas... |
Tipo: Info:eu-repo/semantics/article |
Palavras-chave: Fotointerpretación; Análisis fisiográfico; Levantamiento edafológico semidetallado; Sistema CIAF. |
Ano: 2005 |
URL: http://www.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S1415-43662005000200007 |
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Barbosa,Osvaldo A.; Galarza,Félix M.. |
El presente estudio fue llevado a cabo con el objetivo de estimar las carencias de nutrientes minerales y sus prioridades en suelos agrícolas de regadío del área de influencia de Villa Mercedes (San Luis, Argentina), utilizando una técnica simple que combina métodos sustractivos y aditivos en invernáculo. Las experiencias se realizaron comparando ocho tratamientos sustractivos (C, C-Mg, C-Ca, C-P, C-K, C-S, C-EM, y T), y cuatro aditivos (N, NP, NS, y NPS), en un Haplustoll éntico a dos profundidades (0-20 y 20-40 cm) empleando como planta índice Lolium multiflorum Lam. Los resultados muestran que: 1) no existen deficiencias nutritivas de K, Mg, Ca ni EM (elementos menores), en las profundidades estudiadas, 2) el S fue deficiente en las dos profundidades,... |
Tipo: Info:eu-repo/semantics/article |
Palavras-chave: Nutrientes; Deficiencias; Método sustractivo; Método aditivo; Suelos. |
Ano: 2002 |
URL: http://www.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S1415-43662002000200008 |
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