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| Pereira,Paulo José; Vivanco,Mário Javier Ferrua. |
| Apesar da grande quantidade de pesquisas e trabalhos publicados sobre o tempo de vida na área da entomologia, não é comum encontrar algum que tenha utilizado as técnicas de Análise de Sobrevivência. Com este trabalho, objetivou-se avaliar a possibilidade de aplicar mecanismos de censura em dados entomológicos e estudar a viabilidade da aplicação do teste log-rank. Foram utilizados dados reais entomológicos sem censura de machos e fêmeas da Ceraeochrysa cubana e, a partir deles, montou-se uma sub-rotina em SAS®, na qual, por meio de simulação, introduziram-se as censuras aleatória e do tipo I, aplicando, assim, o teste log-rank para comparação das curvas resultantes e para diferentes porcentagens de censura. Utilizando os dados reais e os gerados por... |
| Tipo: Info:eu-repo/semantics/article |
Palavras-chave: Análise de sobrevivência; Censura; Tempo de vida. |
| Ano: 2003 |
URL: http://www.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S1413-70542003000200026 |
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| Silva,Ana Lúcia Souza da; Vivanco,Mário Javier Ferrua; Menezes,Fortunato Silva de. |
| Vários tipos de resíduos têm sido propostos para modelos de sobrevivência, sendo os mais adequados resultado dos resíduos generalizados de Cox e Snell (1968). O objetivo com este trabalho é avaliar a adequacidade de modelos por meio de gráficos de diagnósticos gerados a partir dos resíduos generalizados de Cox-Snell. Para ilustrar a teoria, foram feitas três aplicações. A primeira aplicação visou a ilustrar a lógica existente entre a plotagem dos resíduos ordenados de três distribuições, normal (0,1), logística (0,1) e valor extremo (0,1) versus as estatísticas de ordem esperadas desses resíduos de acordo com as distribuições assumidas. Para a segunda aplicação, foram utilizados dados de tempo de vida de isolantes, obtidos em Nelson (1990). A partir da... |
| Tipo: Info:eu-repo/semantics/article |
Palavras-chave: Resíduos generalizados de cox-snell; Adequacidade de modelos; Gráficos de diagnósticos. |
| Ano: 2004 |
URL: http://www.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S1413-70542004000500030 |
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