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| Marín,Paula A; Botero,Luz E; Robledo,Jaime A; Murillo,Ana M; Torres,Robinson A; Montagut,Yeison J; Pabón,Elizabeth; Jaramillo,Marisol. |
| Un paso crucial en el desarrollo de un inmunosensor piezoeléctrico para la detección de tuberculosis (TB), es la selección y obtención de los inmunoreactivos empleados en el inmunoensayo y la estrategia para la biofuncionalización del transductor. Diversos estudios han reportado el uso del antígeno proteico 38kDa (Ag38kDa) de Mycobacterium tuberculosis (Mtb) como un buen biomarcador de la enfermedad y el cumplimiento de las características físicas y bioquímicas para ser inmovilizado por monocapas autoensambladas (SAMs), en la superficie del electrodo de oro de cristales piezoeléctricos. Un inmunosensor piezoeléctrico desarrollado a partir de un antígeno nativo purificado de Mtb podría ser un método alternativo simple para la detección de Mtb con ventajas... |
| Tipo: Info:eu-repo/semantics/article |
Palavras-chave: AFM; Antígeno 38kDa; Biosensores; Inmunoensayos; Inmovilización; Microbalanza de cristal de cuarzo. |
| Ano: 2015 |
URL: http://www.scielo.org.co/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0120-548X2015000100014 |
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| Carvalho,Marta C. N. A.; Perez,Carlos A.; Simão,Renata A.; Passos,Fabio B.; Schmal,Martin. |
| Silver supported catalysts on alpha-alumina were prepared and characterized by Brunauer-Emmet-Teller equations, scanning electronic microscopy, X-ray diffraction and atomic force microscopy techniques. Results show that these are powerful techniques for the determination of texture, morphology and surface properties. It has been shown that the addition of Cs in the Ag/Al2O3 catalyst increased the dispersion of silver with the formation of small silver particles over a thin silver film already formed over the alumina support. It is important to stress that atomic force microscopy measurements are significant to observe the film and the dispersion of Ag and, on the contrary, X-ray photoelectronic spectroscopy did not, however, it allows to the conclusion... |
| Tipo: Info:eu-repo/semantics/article |
Palavras-chave: Silver; Cesium; Catalyst; AFM; XPS. |
| Ano: 2004 |
URL: http://www.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0001-37652004000100003 |
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| BERNARDES FILHO, R.; MATTOSO, L. H. C.. |
| A microscopia de varredura de força (MVF SFM "scanning force microscopy") também conhecida como microscopia de força atômica (MFA AFM "atomic force microscopy") tem sido utilizada largamente no estudo de polímeros (Jandt (1998), Schneider & Herrmann (2001) e Hodges (2002)), devido a sua capacidade de fornecer informações que não eram passíveis de se obter com o uso da microscopia eletrônica de varredura. Por conseguir obter imagens de superfície de materiais sob as mais variadas condições (ar, vácuo e em meio líquido) se tornou um dos equipamentos mais completos para estudo de materiais em micro e nano escalas. Apresenta várias vantagens em relação às microscopias eletrônica (ME) de varredura e eletrônica de transmissão, para estudo de polímeros, entre... |
| Tipo: Folhetos |
Palavras-chave: Microscopia de Força Atômica; Nível microscópico e atômico; AFM; Imagens; Análise. |
| Ano: 2003 |
URL: http://www.infoteca.cnptia.embrapa.br/infoteca/handle/doc/28614 |
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