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Non-Destructive Model to Predict Commelina diffusa Leaf Area Planta Daninha
CARVALHO,L.B.; ALVES,E.A.; BIANCO,S..
ABSTRACT: Leaf length (L), leaf width (W), and leaf area (LA) were measured from 100 leaves aiming to determine a simple linear equation (Y=a*X) to predict the leaf area of Commelina diffusa, an important weed infesting annual and perennial crops in Brazil and worldwide. Results indicate the equation LA=0.7*LW reliably estimates the leaf area of C. diffusa, after correlating LA with LW, and then validating that equation by analyzing four new 25-leaf samples.
Tipo: Info:eu-repo/semantics/article Palavras-chave: Plant growth; Biometry; Non-destructive method; Mathematical model; Climbing dayflower.
Ano: 2017 URL: http://www.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0100-83582017000100286
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