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Determinação da topografia de uma fruta pela técnica de moiré de sombra com multiplicação de franjas Ciência e Agrotecnologia
Lino,Antonio Carlos Loureiro; Fabbro,Inácio Maria Dal.
As técnicas de moiré (TM) são um conjunto de técnicas, baseadas no fenômeno de moiré, mais comumente utilizadas em perfilometria, devido à sua simplicidade e rapidez de medição. O fenômeno de moiré consiste na interferência causada pela sobreposição de duas estruturas periódicas (retículos), sendo a TM de sombra com multiplicação de franjas mais sensível que os métodos tradicionais, além de diminuir os efeitos da diferença de iluminação na superfície do objeto em estudo. Objetivou-se com este trabalho gerar um Modelo Digital de Elevação (MDE) de uma pêra pela TM de sombra com multiplicação de franjas e compará-lo a um outro modelo gerado a partir de um scanner 3D. Para este trabalho, foram utilizados um modelo de uma pêra, em escala 1:1, confeccionado em...
Tipo: Info:eu-repo/semantics/article Palavras-chave: Técnicas de moiré; Moiré de sombra; Perfilometria; Frutos.
Ano: 2004 URL: http://www.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S1413-70542004000100016
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Calibração da técnica de moiré aplicada a perfilometria de protótipos mecânicos Ciência e Agrotecnologia
Gomes,Túlio Seabra; Braga Júnior,Roberto Alves; Lino,Antônio Carlos Loureiro; Rabelo,Giovanni Francisco; Costa,Ricardo Marques.
A perfilometria é uma técnica amplamente utilizada na construção de mapas e gráficos de relevos aplicados a uma vasta área do conhecimento. Frente às necessidades de suprir a demanda da indústria e da área de desenvolvimento de protótipos quanto a técnicas não invasivas na investigação da superfície de materiais em geral, o presente trabalho buscou propor uma metodologia de calibração aplicada à técnica de moiré para investigações perfilométricas em protótipos mecânicos buscando baixos custos e flexibilidade. A técnica de moiré consiste na comparação de dois retículos periódicos, onde um segue o comportamento da superfície do objeto (retículo modelo - Rm) e outro não está deformado, seguindo o comportamento de um plano de referência, (retículo de...
Tipo: Info:eu-repo/semantics/article Palavras-chave: Deformações; Perfilometria; Retículos.
Ano: 2009 URL: http://www.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S1413-70542009000200033
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