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Análise de correspondência - uma ferramenta útil na comparação de mapas de produtividade. Infoteca-e
CARVALHO, J. R. P. de; VIEIRA, S. R.; MORAN, R. C. C. P..
O objetivo deste trabalho é apresentar a análise de correspondência como um método estatístico multivariado que pode ajudar na comparação de mapas de produtividade.
Tipo: Comunicado Técnico (INFOTECA-E) Palavras-chave: Análise de correspondência; Mapa de produtividade; Krigagem; Variabilidade temporal; Variabilidade espacial; Análise multivariada; Yield mapping; Kriging; Variability; Multivariate analysis.
Ano: 2001 URL: http://www.infoteca.cnptia.embrapa.br/infoteca/handle/doc/7817
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Caracterização dos principais polos de produção de banana no Brasil. Repositório Alice
LUCENA, C. C. de; ROCHA, H. S.; ALBUQUERQUE, A. F. A. de; AMORIM, E. P.; BORGES, A. L..
Importância do cultivo de banana no Brasil. O Brasil atualmente é o quinto produtor mundial de banana, com produção de 7,3 milhões toneladas em 503 mil hectares, com valor da produção de R$ 4,37 bilhões (1). De acordo com levantamento do Censo Agropecuário de 2006, a cultura está presente em 172 mil estabelecimentos rurais do país. Um dos maiores propulsores da elevação do grau de tecnologia utilizados na bananicultura nacional foi o desenvolvimento de projetos públicos de irrigação no Norte de Minas, Bom Jesus da Lapa, Vale do São Franscisco, Vale do Jaguaribe e Vale do Açú.
Tipo: Parte de livro Palavras-chave: Microecnomia.; Banana; Produção agrícola; Sistema de produção.; Musa; Yield mapping; Production technology.
Ano: 2013 URL: http://www.alice.cnptia.embrapa.br/alice/handle/doc/967182
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Strategies for monitoring within-feld soybean yield using Sentinel-2 Vis-NIR-SWIR spectral bands and machine learning regression methods. Repositório Alice
CRUSIOL, L. G. T.; SUN, L.; SIBALDELLI, R. N. R.; FELIPE JUNIOR, V.; FURLANETI, W. X.; CHEN, R.; SUN, Z.; WUYUN, D.; CHEN, Z.; NANNI, M. R.; FURLANETTO, R. H.; CEZAR, E.; NEPOMUCENO, A. L.; FARIAS, J. R. B..
Tipo: Artigo de periódico Palavras-chave: Soja; Maquina; Raio Infravermelho; Soybeans; Yield mapping; Yield monitoring; Multispectral imagery; Spectral analysis.
Ano: 2022 URL: http://www.alice.cnptia.embrapa.br/alice/handle/doc/1151089
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