| A microscopia de varredura de força (MVF SFM "scanning force microscopy") também conhecida como microscopia de força atômica (MFA AFM "atomic force microscopy") tem sido utilizada largamente no estudo de polímeros (Jandt (1998), Schneider & Herrmann (2001) e Hodges (2002)), devido a sua capacidade de fornecer informações que não eram passíveis de se obter com o uso da microscopia eletrônica de varredura. Por conseguir obter imagens de superfície de materiais sob as mais variadas condições (ar, vácuo e em meio líquido) se tornou um dos equipamentos mais completos para estudo de materiais em micro e nano escalas. Apresenta várias vantagens em relação às microscopias eletrônica (ME) de varredura e eletrônica de transmissão, para estudo de polímeros, entre... |
