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| AMBONI,Renata D. de Mello Castanho; FRANCISCO,Alícia DE; TEIXEIRA,Evanilda. |
| Atualmente a detecção de fraudes em café em pó, desengordurado e tamizado, é realizada por microscopia ótica. Assim, propõe-se um método alternativo de microscopia, mais rápido e eficiente do que o usado atualmente para a detecção de fraudes amiláceas em café torrado e moído: a microscopia eletrônica de varredura. Comparou-se café puro com café fraudado com 2,5, 5 e 10% de centeio, cevada, milho e trigo. Em todas as análises de microscopia eletrônica de varredura (SEM) de café fraudado, detectou-se, facilmente, a presença de amido, o que não ocorreu na microscopia ótica. Sugere-se o uso de microscopia eletrônica de varredura como um método para a identificação de cereais como adulterantes em café. |
| Tipo: Info:eu-repo/semantics/article |
Palavras-chave: Café (torrado e moído); Fraudes; Amido; Microscopia eletrônica de varredura. |
| Ano: 1999 |
URL: http://www.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0101-20611999000300002 |
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